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2024-11-30 霍爾遷移率測(cè)試儀在半導(dǎo)體材料的研究中的應(yīng)用
2024-11-04 無(wú)損電阻率測(cè)試儀在地質(zhì)勘探中的作用
2025-05-28 2024-12-07 2024-10-17 產(chǎn)品中心/ products
晶圓電阻率測(cè)試儀，硅片電阻率測(cè)試儀，渦流法電阻率分析儀，晶錠電阻率分析儀，遷移率（霍爾）測(cè)試儀，少子壽命測(cè)試儀，為晶圓、碳化硅、硅片、封裝測(cè)試等生產(chǎn)和品質(zhì)監(jiān)控，提供一整套完整測(cè)試和解決方案。
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2025-06-26訪 問(wèn) 量：905
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專(zhuān)注于非接觸式半導(dǎo)體計(jì)量分析技術(shù)的開(kāi)發(fā)和生產(chǎn) ，攻克被國(guó)外卡脖子技術(shù)。
產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光伏、科研以及平板材料測(cè)試領(lǐng)域。借助公司*計(jì)量分析測(cè)試技術(shù)，為晶圓、碳化硅、硅片、封裝測(cè)試等生產(chǎn)和品質(zhì)監(jiān)控，提供一整套完整測(cè)試和解決方案。
晶圓電阻率測(cè)試儀，硅片電阻率測(cè)試儀，渦流法低電阻率分析儀，晶錠電阻率分析儀，遷移率（霍爾）測(cè)試儀，少子壽命測(cè)試儀，
一、
晶圓電阻率測(cè)試儀
硅片方阻測(cè)試儀
渦流法低電阻率分析儀
晶錠電阻率分析儀
樣品尺寸：2"-8"或者16mm×16mm的方形樣品；
遷移率測(cè)量范圍：100-20000（cm2/v.sec)；
方塊電阻測(cè)量范圍：100-3000（ohm/sq)；
載流子面密度測(cè)量范圍：1E11-1E14（cm-2）；
電磁鐵磁場(chǎng)強(qiáng)度：1.0T
探頭線圈直徑：15mm
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