<fieldset id="oiy0w"></fieldset>

<ul id="oiy0w"></ul>

產(chǎn)品分類·product

我們相信優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品是信譽的保證！

相關(guān)文章·articles

致力于成為優(yōu)秀的解決方案供應(yīng)商！

產(chǎn)品中心/ products

您的位置：首頁 - 產(chǎn)品中心 - 硅片方阻測試儀 - 硅片電阻率測試儀 - 金剛石厚度TTV測試儀

金剛石厚度TTV測試儀

金剛石膜檢測與測試報告檢測項目金剛石膜的檢測項目主要包括以下幾個方面：膜厚度、晶體結(jié)構(gòu)、表面粗糙度、附著力、熱穩(wěn)定性及耐磨性等。

立即咨詢

聯(lián)系電話：

產(chǎn)品詳情

?金剛石厚度測試的方法主要包括以下幾種?：

?X射線檢測?：將樣品放置在X射線檢測機的樣品室載物臺上，曲面朝上，用美工膠紙固定。調(diào)整工作電壓至90KV，工作電流100μA，選擇合適的放大倍數(shù)拍照、測量并保存數(shù)據(jù)。X射線檢測可以清晰地顯示金剛石復(fù)合片的邊界和各層厚度?1。
?超聲檢測?：使用水浸超聲掃描顯微鏡設(shè)備進行檢測。將金剛石復(fù)合片放入設(shè)備探頭正下方，校準探頭及工件參數(shù)，進行超聲檢測。超聲C掃描呈像可以清晰地顯示金剛石復(fù)合片的厚度和內(nèi)部缺陷情況，如裂痕和空洞等?2。
?三維工業(yè)CT/X-RAY?：通過三維工業(yè)CT或X射線掃描設(shè)備，可以提供高精度的內(nèi)部缺陷檢測。這種方法適用于芯片和電子器件的內(nèi)部缺陷檢測，能夠精準定位內(nèi)部問題?